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FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀
		應(yīng)用說明:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 
導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 
半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 
導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀描述:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M 
標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
 
	
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀參數(shù)資料
| 規(guī)格型號 | FT-341 | 
| 1.方塊電阻 | 10^-5~2×10^5Ω/□ | 
| 2.電阻率 | 10^-6~2×10^6Ω-cm | 
| 3.測試電流 | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA | 
| 4.電流精度 | ±0.1% | 
| 5.電阻精度 | ≤0.3% | 
| 6.顯示讀數(shù) | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 | 
| 7.測試方式 | 雙電測量 | 
| 8.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W | 
| 9.誤差 | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) | 
| 10.選購功能 | 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標(biāo)準(zhǔn)電阻. | 
| 11.測試探頭 | 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 | 
| 12.標(biāo)準(zhǔn)電阻(選購) | 規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ | 
標(biāo)準(zhǔn)配置外訂購明細:
| 序號 | 型號 | 品名 | 單位 | 數(shù)量 | 備注 | 
| 1 | 340-CSX | 測試線 | 套 | 1 | 
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| 2 | 09A | 標(biāo)準(zhǔn)電阻 | 個 | 1-5 | 選購規(guī)格和數(shù)量 | 
| 3 | 06A | 四探針測試平臺 | 套 | 1 | 含探頭1個 | 
| 4 | 06B | 四探針探頭 | 個 | 1 | 方型或直線型選購 | 
| 5 | 340-TTZ | 鍍金彈簧銅針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 | 
| 6 | 340-WTZ | 彈簧鎢針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 | 
| 7 | 340-RJ | 分析軟件 | 套 | 1 | 
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| 8 | PC | 電腦+打印機 | 套 | 1 | 依據(jù)客戶要求配置 | 
| 9 | 300-JL | 檢測技術(shù)服務(wù) | 份 | 1 | 計量證書1份 | 
| 10 | WDCGQ | 溫度傳感器 | 套 | 1 | 常溫-125度 | 
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 | 341-YB | 延保服務(wù) | 年 | 1-3 | 
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